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X射線無損探傷時(shí)間：2023-09-14型號：廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家瀏覽量：20887X射線無損探傷是一種利用X射線穿透物體并通過檢測和分析所產(chǎn)生的X射線圖像來評估物體內(nèi)部結(jié)構(gòu)和缺陷的技術(shù)。它可以用于檢測材料中的裂紋、氣孔、夾雜物等缺陷，以及評估物體的完整性和質(zhì)量。
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